Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Electron Devices
Année : 2016
sebastien fregonese : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01399079
Soumis le : vendredi 18 novembre 2016-12:18:45
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Citer
Anjan Chakravorty, Rosario d'Esposito, Suresh Balanethiram, Sebastien Fregonese, Thomas Zimmer. Analytic Estimation of Thermal Resistance in HBTs. IEEE Transactions on Electron Devices, 2016, 63 (8), pp.2994 - 2998. ⟨10.1109/TED.2016.2572959⟩. ⟨hal-01399079⟩
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