Test and calibration of RF circuits using built-in non-intrusive sensors - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2015
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01393848 , version 1 (08-11-2016)

Licence

Paternité - Pas d'utilisation commerciale

Identifiants

  • HAL Id : hal-01393848 , version 1

Citer

A. Dimakos, M. Andraud, L. Abdallah, H. Stratigopoulos, Emmanuel Simeu, et al.. Test and calibration of RF circuits using built-in non-intrusive sensors. IEEE International Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI'15), Jul 2015, Montpellier, France. pp.627. ⟨hal-01393848⟩

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