Birefringence measurement of glass ion-exchanged waveguides: Burying depth or cover layer influence - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Birefringence measurement of glass ion-exchanged waveguides: Burying depth or cover layer influence

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01377826 , version 1 (07-10-2016)

Identifiants

Citer

Damien Jamon, Jean Philippe Garayt, Elodie Jordan, François Parsy, Elise Ghibaudo, et al.. Birefringence measurement of glass ion-exchanged waveguides: Burying depth or cover layer influence. SPIE OPTO, Feb 2016, San Francisco, United States. pp.97500B, ⟨10.1117/12.2209273⟩. ⟨hal-01377826⟩
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