Built-in test of millimeter-wave circuits based on non-intrusive sensors

Ingénierie assistée par ordinateur Modélisation et simulation Intelligence artificielle [cs.AI] Micro et nanotechnologies/Microélectronique Electronique

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https://hal.sorbonne-universite.fr/hal-01359620

Soumis le : vendredi 2 septembre 2016-17:47:53

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:17:21

Dates et versions

hal-01359620 , version 1 (02-09-2016)

Identifiants

HAL Id : hal-01359620 , version 1

Citer

Athanasios Dimakos, Haralampos-G. Stratigopoulos, Alexandre Siligaris, Salvador Mir, Emeric de Foucauld. Built-in test of millimeter-wave circuits based on non-intrusive sensors. Design, Automation & Test in Europe Conference, Mar 2016, Dresden, Germany. ⟨hal-01359620⟩

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