Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Reliability
Année : 2002
Léo Gerville-Réache : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01355237
Soumis le : lundi 22 août 2016-16:32:41
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-03:09:56
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01355237 , version 1
Citer
Vilijandas Bagdonavicius, Léo Gerville-Réache, Mikhail Nikulin. On parametric inference for step-stress models. IEEE Transactions on Reliability, 2002, 51 (1), pp.27-31. ⟨hal-01355237⟩
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