Qualification procedure for moisture in embedded capacitors - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2014
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01349082 , version 1 (26-07-2016)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01349082 , version 1

Citer

H. Frémont, J. Kludt, M. Wade, K. Weide-Zaage, I. Bord-Majek, et al.. Qualification procedure for moisture in embedded capacitors . 25th European Symposium On Reliability of Electron Devices, Failure Physics an Analysis (ESREF 2014), Sep 2014, Berlin, Germany. pp.37. ⟨hal-01349082⟩
37 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More