Quantification 2D et 3D par tomographie FIB/SEM de la porosité d’une brasure à base d’argent fritté pour un nouveau composant microélectronique

Wafaa Rmili (1) , Nicolas Vivet (2) , Sylvain Chupin (3) , Tristan Le Bihan (3) , Guenhael Le Quilliec (1) , Caroline Richard (1)

1 LMR - Laboratoire de Mécanique et de Rhéologie
2 ST-TOURS - STMicroelectronics [Tours]
3 CEA Le Ripault - CEA Le Ripault

Domaines: Mécanique des matériaux [physics.class-ph]; Matériaux; Thermique [physics.class-ph]; Electronique

Wafaa Rmili, Nicolas Vivet, Sylvain Chupin, Tristan Le Bihan, Guenhael Le Quilliec, et al.. Quantification 2D et 3D par tomographie FIB/SEM de la porosité d’une brasure à base d’argent fritté pour un nouveau composant microélectronique. Deuxièmes Journées Matériaux Numériques, Feb 2015, Saint-Aignan, France. ⟨hal-01333158⟩