Interface Roughness Cross-Correlation Laws Deduced From Scattering Diagram Measurements On Optical Multilayers - Effect Of The Material Grain-Size - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of the Optical Society of America B Année : 1987

Interface Roughness Cross-Correlation Laws Deduced From Scattering Diagram Measurements On Optical Multilayers - Effect Of The Material Grain-Size

Claude Amra
Institut FRESNEL
CV
Pierre Roche
  • Fonction : Auteur
Emile Pelletier
  • Fonction : Auteur

Domaines

Optique / photonique Electromagnétisme Optique [physics.optics]

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https://hal.science/hal-01324290

Soumis le : mardi 31 mai 2016-18:01:22

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Dates et versions

hal-01324290 , version 1 (31-05-2016)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01324290 , version 1

Citer

Claude Amra, Pierre Roche, Emile Pelletier. Interface Roughness Cross-Correlation Laws Deduced From Scattering Diagram Measurements On Optical Multilayers - Effect Of The Material Grain-Size. Journal of the Optical Society of America B, 1987, 4, pp.1087-1093. ⟨hal-01324290⟩

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