Comparison of Three E-Beam Techniques for Electric Field Imaging and Carrier Diffusion Length Measurement on the Same Nanowires - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Nano Letters Année : 2016

Comparison of Three E-Beam Techniques for Electric Field Imaging and Carrier Diffusion Length Measurement on the Same Nanowires

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01319842 , version 1 (23-05-2016)

Identifiants

Citer

F. Donatini, Andres de Luna Bugallo, Pierre Tchoulfian, Gauthier Chicot, Corinne Sartel, et al.. Comparison of Three E-Beam Techniques for Electric Field Imaging and Carrier Diffusion Length Measurement on the Same Nanowires. Nano Letters, 2016, 16 (5), pp.2938-2944. ⟨10.1021/acs.nanolett.5b04710⟩. ⟨hal-01319842⟩
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