Article Dans Une Revue
Nano Letters
Année : 2016
Fabrice Donatini : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01319842
Soumis le : lundi 23 mai 2016-10:08:42
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-21:26:17
Citer
F. Donatini, Andres de Luna Bugallo, Pierre Tchoulfian, Gauthier Chicot, Corinne Sartel, et al.. Comparison of Three E-Beam Techniques for Electric Field Imaging and Carrier Diffusion Length Measurement on the Same Nanowires. Nano Letters, 2016, 16 (5), pp.2938-2944. ⟨10.1021/acs.nanolett.5b04710⟩. ⟨hal-01319842⟩
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