Thermal conductances across silicon sub-mean free path sources measured with a four-probe electrical setup - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Poster De Conférence Année : 2014

Thermal conductances across silicon sub-mean free path sources measured with a four-probe electrical setup

Wassim Jaber
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 978599
Centre d'Energétique et de Thermique de Lyon
C. Chevalier
  • Fonction : Auteur
Pierre-Olivier Chapuis
Centre d'Energétique et de Thermique de Lyon
CV

Domaines

Thermique [physics.class-ph]

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https://hal.science/hal-01291388

Soumis le : lundi 21 mars 2016-14:17:17

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:02

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01291388 , version 1 (21-03-2016)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01291388 , version 1

Citer

Wassim Jaber, C. Chevalier, Pierre-Olivier Chapuis. Thermal conductances across silicon sub-mean free path sources measured with a four-probe electrical setup. Scientific school on “Instrumentation and Thermal Metrology for micro/nanoscience: Fundamentals and Applications”, Nov 2014, Fréjus, France. 2014. ⟨hal-01291388⟩

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