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Communication Dans Un Congrès Année : 2015

Analysis of energy deposition and damage mechanisms in single layers of HfO2 and Nb2O5 submitted to 500fs pulses

Dam-Bé Douti
  • Fonction : Auteur
ILM
Mhamad Chrayteh
  • Fonction : Auteur
MOSAIC
ILM
S. Monneret
MOSAIC
Mireille Commandre
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 832173
ILM
Laurent Gallais
ILM
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https://hal.science/hal-01275835

Soumis le : jeudi 18 février 2016-11:46:03

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:01

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Dates et versions

hal-01275835 , version 1 (18-02-2016)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01275835 , version 1

Citer

Dam-Bé Douti, Mhamad Chrayteh, S. Monneret, Mireille Commandre, Laurent Gallais. Analysis of energy deposition and damage mechanisms in single layers of HfO2 and Nb2O5 submitted to 500fs pulses. Laser-Induced Damage in Optical Materials: 2015, 2015, Boulder, United States. pp.96320L. ⟨hal-01275835⟩

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