Méthode globale de caractérisation de matériaux : permittivité et épaisseur de l’échantillon - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Méthode globale de caractérisation de matériaux : permittivité et épaisseur de l’échantillon

Résumé

Nous proposons dans cet article la description d’une nouvelle méthode de caractérisation qui permet à la fois de déterminer la permittivité et l’épaisseur de l’échantillon. Le principe repose sur une cavité résonante de type klystron, couplée par des sondes électriques selon un principe original. Contrairement aux méthodes résonantes classiques, où seulement la fréquence de résonance est utilisée, cette nouvelle structure fait apparaitre deux fréquences caractéristiques qui permettent donc de déterminer à la fois la permittivité et l’épaisseur de l’échantillon. Dans cet article la procédure théorique est présentée puis appliquée à un cas expérimental.
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01272469 , version 1 (10-02-2016)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01272469 , version 1

Citer

Apedjinou Anoumou, Valérie Madrangeas, Dominique Cros, Damien Passerieux, Michel Aubourg, et al.. Méthode globale de caractérisation de matériaux : permittivité et épaisseur de l’échantillon. 14ème Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux (JCMM), Mar 2016, Calais, France. ⟨hal-01272469⟩
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