Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2015
Hélène Fremont : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01257907
Soumis le : lundi 18 janvier 2016-13:58:20
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01257907 , version 1
Citer
L. Meinshausen, K. Weide-Zaage, Hélène Frémont. Dynamical IMC-growth calculation.. Microelectronics Reliability, 2015, 55 (9-10), pp.1832-1837. ⟨hal-01257907⟩
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