Article Dans Une Revue
COMPEL: The International Journal for Computation and Mathematics in Electrical and Electronic Engineering
Année : 2015
Yann Le Bihan : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01254657
Soumis le : mardi 12 janvier 2016-15:18:55
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:01
Citer
Chelabi Mohamed, Tarik Hacib, Zoubida Belli, Mohamed Rachid Mekideche, Yann Le Bihan. The combination of adaptive database SDM and multi-output SVM for eddy current testing. COMPEL: The International Journal for Computation and Mathematics in Electrical and Electronic Engineering, 2015, 34 (6), pp.1731-1739. ⟨10.1108/COMPEL-12-2014-0348⟩. ⟨hal-01254657⟩
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