Limitation of surface defects in deep GaN etching - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2015
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01228462 , version 1 (13-11-2015)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01228462 , version 1

Citer

Nicolas Gosset, Thomas Tillocher, Floriane Leroy, Julien Ladroue, Philippe Lefaucheux, et al.. Limitation of surface defects in deep GaN etching. AVS 62nd International Symposium & Exhibition, Oct 2015, San Jose, United States. ⟨hal-01228462⟩
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