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Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Investigation of Electrical Characteristics of Multi-Gate Bulk nMOSFET

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique Electronique

Sylvain Feruglio  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01201800

Soumis le : vendredi 18 septembre 2015-10:10:30

Dernière modification le : mardi 11 avril 2023-15:16:28

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01201800 , version 1 (18-09-2015)

Identifiants

Citer

Inga Jolanta Zbierska, L. Militaru, F. Calmon, Sylvain Feruglio, Guo-Neng Lu. Investigation of Electrical Characteristics of Multi-Gate Bulk nMOSFET. 29th International Conference on Microelectronics - MIEL 2014, May 2014, Belgrade, Serbia. pp.95 - 98, ⟨10.1109/MIEL.2014.6842094⟩. ⟨hal-01201800⟩

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