F. H. Chung and D. K. Smith, Industrial Applications of X-ray Diffraction, 2000.
DOI : 10.1201/b16940

F. Mathieu and F. Mathieu, Exercices et Problèmes de Cristallographie, Cépaduès Éditions Cristallographie géométrique : de l'observation des cristaux aux lois des milieux cristallisés, Cépaduès Éditions, 2002.

«. Licence-professionnelle, ». Traitement-et-contrôle-des-matériaux, and U. «. , Propriétés et méthodes d'analyse des matériaux » (6 ECTS ? European Credits Transfer System ?, 25 h CM, 15 h TD

R. L. Snyder, J. Fiala, and H. J. Bunge, Defect and microstructure analysis by diffraction, IUCr Monographs on Crystallography, vol.10, 1999.

R. A. Young, The Rietveld Method, IUCr Monographs on Crystallography, vol.5, 1993.