Communication Dans Un Congrès
Année : 2014
sebastien fregonese : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01158666
Soumis le : lundi 1 juin 2015-16:51:03
Dernière modification le : mercredi 15 novembre 2023-13:14:27
Citer
Rosario d'Esposito, Mario Weiss, Amit Kumar Sahoo, Sébastien Frégonèse, Zimmer T.. A study on transient intra-device thermal coupling in multifinger SiGe HBTs. Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting (BCTM), 2014 IEEE, Sep 2014, Coronado, CA, United States. ⟨10.1109/BCTM.2014.6981309⟩. ⟨hal-01158666⟩
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