Simulations and Measurements to Predict EMC Characteristics in Electronic Assemblies: Obsolescence Management

Geneviève Duchamp 1 Tristan Dubois 1 Hélène Frémont 1
1 IMS - Laboratoire de l'intégration, du matériau au système
Type de document :
Communication dans un congrès
Liste complète des métadonnées
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01153323
Contributeur : Hélène Fremont <>
Soumis le : mardi 19 mai 2015 - 15:50:18
Dernière modification le : mercredi 28 février 2018 - 15:42:08

Identifiants

  • HAL Id : hal-01153323, version 1

Collections

CNRS | IMS-BORDEAUX-FUSION | IMS-BORDEAUX

Citation

Geneviève Duchamp, Tristan Dubois, Hélène Frémont. Simulations and Measurements to Predict EMC Characteristics in Electronic Assemblies: Obsolescence Management. Pan Pacific Symposium, Feb 2015, Kauai, United States. ⟨hal-01153323⟩

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