Analyse quantitative par diffraction des rayons X des défauts plans dans GaP/SI pour la photonique sur Si

Yanping Wang (1) , Thanh Tra Nguyen (1) , Antoine Létoublon (1) , Charles Cornet (1) , Nicolas Bertru (1) , Nathalie Boudet (2) , Julien Stodolna (3) , Anne Ponchet (3) , Jacky Even (1) , Alain Le Corre (1) , Olivier Durand (1)

1 FOTON - Fonctions Optiques pour les Technologies de l'informatiON
2 NEEL - CRG - CRG & Grands instruments
3 CEMES - Centre d'élaboration de matériaux et d'études structurales

Domaines: Optique / photonique

Yanping Wang, Thanh Tra Nguyen, Antoine Létoublon, Charles Cornet, Nicolas Bertru, et al.. Analyse quantitative par diffraction des rayons X des défauts plans dans GaP/SI pour la photonique sur Si. Réunion plénière du GDR Pulse (PULSE 2014), Oct 2014, Toulouse, France. ⟨hal-01137337⟩