Characterization of PVDF with Raman spectroscopy : from off-line to on-line measurements

M. Veitmann; D. Chapron; P. Bourson; S. Bizet; S. Devisme; C. Hucher; J. Guilment

Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Characterization of PVDF with Raman spectroscopy : from off-line to on-line measurements

(1) , (1) , (1) , , , ,

1

M. Veitmann

Fonction : Auteur

Laboratoire Matériaux Optiques, Photonique et Systèmes

D. Chapron

Fonction : Auteur
PersonId : 4590
IdHAL : david-chapron
ORCID : 0000-0002-0738-6626
IdRef : 122548388

Laboratoire Matériaux Optiques, Photonique et Systèmes

P. Bourson

Fonction : Auteur
PersonId : 742596
IdHAL : patrice-bourson
ORCID : 0000-0002-3541-3257
IdRef : 14083026X

Laboratoire Matériaux Optiques, Photonique et Systèmes

S. Bizet

Fonction : Auteur

S. Devisme

Fonction : Auteur

C. Hucher

Fonction : Auteur

J. Guilment

Fonction : Auteur

Domaines

Physique [physics]

Thomas Kauffmann : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01117160

Soumis le : lundi 16 février 2015-14:53:54

Dernière modification le : mardi 12 septembre 2023-14:06:25

Dates et versions

hal-01117160 , version 1 (16-02-2015)

Identifiants

HAL Id : hal-01117160 , version 1

Citer

M. Veitmann, D. Chapron, P. Bourson, S. Bizet, S. Devisme, et al.. Characterization of PVDF with Raman spectroscopy : from off-line to on-line measurements. International Conference on Spectroscopy and Applications, May 2014, Hammamet, Tunisia. ⟨hal-01117160⟩

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