Une nouvelle approche pour la caractérisation des incertitudes : l'approche bornante

Olivier Adrot (1) , Stéphane Ploix (1) , José Ragot (1)

1 CRAN - Centre de Recherche en Automatique de Nancy

La métrologie recouvre un ensemble de moyens matériels et logiciels concourant à produire des informations fiables. Les moyens matériels concernent la conception de capteurs aptes à donner une image la plus fidèle possible de la grandeur à mesurer ; les moyens logiciels regroupent l'ensemble des traitements numériques des données brutes pour fournir des données validées. La frontière entre ces deux domaines est de plus en plus étroite et ce qui les lie est très certainement la modélisation des phénomènes au sens large. De très nombreuses techniques de validation de données brutes existent et la plupart d'entre elles reposent d'une part sur l'existence de modèles ou de relations liant les informations afin de les corréler entre elles et d'autre part sur l'établissement d'hypothèses statistiques sur les défauts des systèmes de mesure (loi de distribution des erreurs par exemple). Dans de nombreux cas, ces hypothèses ont peu de fondement (pourquoi les erreurs de mesure seraient-elles à distribution gaussienne ?) et les modèles peuvent présenter des incertitudes, ce qui rend délicat le recoupement d'informations qu'ils génèrent. On présente ici une technique originale qui examine ces problèmes d'incertitudes avec des hypothèses plus réalistes.

Domaines: Automatique

Olivier Adrot, Stéphane Ploix, José Ragot. Une nouvelle approche pour la caractérisation des incertitudes : l'approche bornante. Chimiométrie'99 : de la mesure à l'information, Dec 1999, Paris, France. ⟨hal-01063350⟩