Simulation-based optimization of sampling plans to reduce inspections while mastering the risk exposure in semiconductor manufacturing - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Intelligent Manufacturing Année : 2014

Simulation-based optimization of sampling plans to reduce inspections while mastering the risk exposure in semiconductor manufacturing

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

Marie Josèphe Perruet  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01063102

Soumis le : jeudi 11 septembre 2014-13:34:38

Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-20:54:49

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01063102 , version 1 (11-09-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01063102 , version 1

Citer

M'Hammed Sahnoun, Belgacem Bettayeb, Samuel Bassetto, Michel Tollenaere. Simulation-based optimization of sampling plans to reduce inspections while mastering the risk exposure in semiconductor manufacturing. Journal of Intelligent Manufacturing, 2014. ⟨hal-01063102⟩

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