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Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Thermal nanometrology and scanning thermal microscopy

Séverine Gomès
Stéphane Lefèvre
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01052499 , version 1 (27-07-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01052499 , version 1

Citer

Séverine Gomès, Stéphane Lefèvre, Pierre-Olivier Chapuis. Thermal nanometrology and scanning thermal microscopy. E-MRS symposium on "Analytical Techniques for Precise Characterization of Nanomaterials (ALTECH)", May 2014, France. ⟨hal-01052499⟩
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