Investigation of the thermal properties of thin solid materials at different temperature levels using a set of microresistors

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Microelectronics Journal, Elsevier, 2014, 45 (5), p. 508-514. 〈10.1016/j.mejo.2013.08.006〉
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Contributeur : Laboratoire Cethil <>
Soumis le : lundi 7 juillet 2014 - 11:53:05
Dernière modification le : jeudi 24 mai 2018 - 15:58:08

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Ali Assy, Séverine Gomès, Patrice Chantrenne, Nicolas Pavy, Jayalakshmi Parasuraman, et al.. Investigation of the thermal properties of thin solid materials at different temperature levels using a set of microresistors. Microelectronics Journal, Elsevier, 2014, 45 (5), p. 508-514. 〈10.1016/j.mejo.2013.08.006〉. 〈hal-01019637〉

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