Communication Dans Un Congrès
Année : 2010
sebastien fregonese : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01002465
Soumis le : vendredi 6 juin 2014-11:03:03
Dernière modification le : mercredi 15 novembre 2023-13:14:27
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01002465 , version 1
Citer
S. Ghosh, F. Marc, C. Maneux, B. Grandchamp, G. A. Koné, et al.. Thermal aging model of InP/InGaAs/InP DHBT. Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Oct 2010, gaeta, Italy. pp.1-4. ⟨hal-01002465⟩
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