Electro-Thermal Investigation and Modeling of Sige Hbt High-Speed Devices - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2014
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00987211 , version 1 (05-05-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00987211 , version 1

Citer

Thomas Zimmer, Mario Weiss, Cristell Maneux, Sebastien Fregonese. Electro-Thermal Investigation and Modeling of Sige Hbt High-Speed Devices. SiGe, Ge & Related Compounds: Materials, Processing and Devices, Oct 2014, Mexico. ⟨hal-00987211⟩
50 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More