Using Small Angle Scattering and Atom Probe Tomography as Complementary Tools for Characterising Precipitate Microstructures at the Nanoscale - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2013

Using Small Angle Scattering and Atom Probe Tomography as Complementary Tools for Characterising Precipitate Microstructures at the Nanoscale

A. Deschamps
Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés
F. de Geuser
Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés
CV
V. Araullo-Peters
  • Fonction : Auteur
J. Cairney
  • Fonction : Auteur
L. Couturier
  • Fonction : Auteur
B. Gault
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1076009
Groupe de physique des matériaux

Domaines

Matériaux

Yannick Champion  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00950644

Soumis le : vendredi 21 février 2014-17:26:09

Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-13:36:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00950644 , version 1 (21-02-2014)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00950644 , version 1

Citer

A. Deschamps, F. de Geuser, V. Araullo-Peters, J. Cairney, L. Couturier, et al.. Using Small Angle Scattering and Atom Probe Tomography as Complementary Tools for Characterising Precipitate Microstructures at the Nanoscale. Neutron and X-Ray Studies of Advanced Materials VI: Centennial and beyond" symposium of the 2013 TMS conference. 2013, 2013, United States. ⟨hal-00950644⟩

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