Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2013
Jean-Michel Vinassa : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00950594
Soumis le : vendredi 21 février 2014-16:35:15
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00950594 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2013.07.096
Citer
Amadou Sow, Sinivassane Somaya, Yves Ousten, Jean-Michel Vinassa, Fanny Patoureaux. Power MOSFET active power cycling for medical system reliability assessment. Microelectronics Reliability, 2013, 53 (9-11), pp.1697-1702. ⟨10.1016/j.microrel.2013.07.096⟩. ⟨hal-00950594⟩
Collections
61
Consultations
0
Téléchargements