Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2013
Isabelle Bord : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00937728
Soumis le : mardi 28 janvier 2014-17:17:56
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00937728 , version 1
Citer
E. Suhir, L. Bechou. Saint-Venant's principle and the minimum length of a dual-coated optical fiber specimen in reliability (proof) testing. Microelectronics Reliability, 2013, 53 (9), pp.1506-1509. ⟨hal-00937728⟩
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