Reliability assessment with amalgamated data via the EM algorithm

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IEEE Transactions on Reliability, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1998, 47 (4), pp.425-430
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Contributeur : Evans Gouno <>
Soumis le : jeudi 5 décembre 2013 - 14:48:00
Dernière modification le : vendredi 13 décembre 2013 - 23:07:30

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  • HAL Id : hal-00914458, version 1

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Evans Gouno, Luc Courtrai. Reliability assessment with amalgamated data via the EM algorithm. IEEE Transactions on Reliability, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1998, 47 (4), pp.425-430. <hal-00914458>

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