Submicrometer InP/InGaAs DHBT Architecture Enhancements Targeting Reliability Improvements

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IEEE Transactions on Electron Devices, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2013, 60 (3), pp.1068-1074. 〈10.1109/TED.2013.2241067〉
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Contributeur : Valérie Abel <>
Soumis le : lundi 25 novembre 2013 - 16:50:42
Dernière modification le : jeudi 18 octobre 2018 - 01:25:01

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Gilles Amadou Koné, Brice Grandchamp, Cyril Hainaut, François Marc, Nathalie Labat, et al.. Submicrometer InP/InGaAs DHBT Architecture Enhancements Targeting Reliability Improvements. IEEE Transactions on Electron Devices, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2013, 60 (3), pp.1068-1074. 〈10.1109/TED.2013.2241067〉. 〈hal-00909053〉

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