TEM Image Analysis, Modelling: Application To Boehmite Nanoparticles

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Journal of Microscopy, Wiley, 2012, 245 (2), pp.186-199
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Contributeur : François Willot <>
Soumis le : mardi 19 novembre 2013 - 21:39:20
Dernière modification le : vendredi 27 octobre 2017 - 17:36:02

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  • HAL Id : hal-00906499, version 1

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Maxime Moreaud, Dominique Jeulin, Vincent Morard. TEM Image Analysis, Modelling: Application To Boehmite Nanoparticles. Journal of Microscopy, Wiley, 2012, 245 (2), pp.186-199. 〈hal-00906499〉

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