Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2013
Hélène Fremont : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00905892
Soumis le : lundi 18 novembre 2013-17:54:32
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00905892 , version 1
Citer
W. Ben Naceur, N. Malbert, N. Labat, H. Frémont, D. Carisetti, et al.. Failure analysis of GaAs microwave devices with plastic encapsulation by electro-optical techniques. Microelectronics Reliability, 2013, 53 (9), pp 1375-1380. ⟨hal-00905892⟩
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