Scanning microwave near-field microscope based on the multiport technology

Kamel Haddadi; T. Lasri

doi:10.1109/TIM.2013.2270918

Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement Année : 2013

Scanning microwave near-field microscope based on the multiport technology

(1) , (1)

1

Kamel Haddadi

Fonction : Auteur
PersonId : 745983
IdHAL : kamel-haddadi
ORCID : 0000-0002-4857-5220
IdRef : 124600530

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520

CV

T. Lasri

Fonction : Auteur
PersonId : 751883
IdHAL : tuami-lasri

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520

Collection IEMN : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00903759

Soumis le : mercredi 13 novembre 2013-08:33:25

Dernière modification le : jeudi 25 janvier 2024-03:38:18

Dates et versions

hal-00903759 , version 1 (13-11-2013)

Identifiants

HAL Id : hal-00903759 , version 1
DOI : 10.1109/TIM.2013.2270918

Citer

Kamel Haddadi, T. Lasri. Scanning microwave near-field microscope based on the multiport technology. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2013, 62, pp.3189-3193. ⟨10.1109/TIM.2013.2270918⟩. ⟨hal-00903759⟩

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