Defect detection based on thermal periodic excitation - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2012
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00846526 , version 1 (19-07-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00846526 , version 1

Citer

Antoine Crinière, B. Lascoup, Laetitia Perez, Laurent Autrique. Defect detection based on thermal periodic excitation. ECCM 2012, 15th EUROPEAN CONFERENCE ON COMPOSITE MATERIALS, Jun 2012, Venise, Italy. ⟨hal-00846526⟩
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