Characterization of surface roughness by means of wavelet analysis

Type de document :
Communication dans un congrès
13th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces, Apr 2011, Twickenham, United Kingdom. 2011
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Soumis le : mardi 18 juin 2013 - 07:08:29
Dernière modification le : vendredi 27 octobre 2017 - 17:36:02

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  • HAL Id : hal-00835058, version 1

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Citation

Bruno Figliuzzi, Dominique Jeulin, Gabriel Fricout, Jean-Jacques Piezanowski. Characterization of surface roughness by means of wavelet analysis. 13th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces, Apr 2011, Twickenham, United Kingdom. 2011. 〈hal-00835058〉

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