Characterization of surface roughness by means of wavelet analysis

Type de document :
Communication dans un congrès
13th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces, Apr 2011, Twickenham, United Kingdom. 2011
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Contributeur : Doriane Ibarra <>
Soumis le : mardi 18 juin 2013 - 07:08:29
Dernière modification le : jeudi 14 septembre 2017 - 01:06:42

Identifiants

  • HAL Id : hal-00835058, version 1

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Citation

Bruno Figliuzzi, Dominique Jeulin, Gabriel Fricout, Jean-Jacques Piezanowski. Characterization of surface roughness by means of wavelet analysis. 13th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces, Apr 2011, Twickenham, United Kingdom. 2011. <hal-00835058>

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