Orientation and phase mapping in TEM microscopy (EBSD-TEM like): applications to materials science - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Solid State Phenomena Année : 2012

Orientation and phase mapping in TEM microscopy (EBSD-TEM like): applications to materials science

E.F. Rauch
Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés
M. Veron
  • Fonction : Auteur
Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés
S. Nicolopoulos
  • Fonction : Auteur
NanoMEGAS, Brussels
D. Bultreys
  • Fonction : Auteur
NanoMEGAS, Brussels

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Yannick Champion  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00824369

Soumis le : mardi 21 mai 2013-15:54:52

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:13

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00824369 , version 1 (21-05-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00824369 , version 1

Citer

E.F. Rauch, M. Veron, S. Nicolopoulos, D. Bultreys. Orientation and phase mapping in TEM microscopy (EBSD-TEM like): applications to materials science. Solid State Phenomena, 2012, 186, pp.13-15. ⟨hal-00824369⟩

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