Article Dans Une Revue
Chemical Vapor Deposition
Année : 2012
Sylvie Garcia : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00815127
Soumis le : jeudi 18 avril 2013-11:17:27
Dernière modification le : jeudi 8 février 2024-15:04:06
Citer
Abdelkader Kahouli, Emmanuel André, Alain Sylvestre, Sébastien Pairis, Fathi Jomni, et al.. Structure and dielectric study of poly(a, a difluoro-p-xylylene) thin films: highlight of the substrate temperature effect. Chemical Vapor Deposition, 2012, 18 (4-6), pp.147-150. ⟨10.1002/cvde.201204310⟩. ⟨hal-00815127⟩
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