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Communication Dans Un Congrès Année : 2013

[Invité] Caractérisation des composants silicium en gamme de fréquence millimétrique

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https://hal.science/hal-00811822

Soumis le : jeudi 11 avril 2013-10:49:46

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00811822 , version 1 (11-04-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00811822 , version 1

Citer

Christophe Gaquière. [Invité] Caractérisation des composants silicium en gamme de fréquence millimétrique. Journées Thématiques du GdR Ondes, RF/millimétrique et optique intégrée, 2013, Grenoble, France. ⟨hal-00811822⟩

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