[Invité] Caractérisation électrique de défauts atomiques uniques dans un semi-conducteur - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2008

[Invité] Caractérisation électrique de défauts atomiques uniques dans un semi-conducteur

B. Grandidier
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
CV

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https://hal.science/hal-00811728

Soumis le : jeudi 11 avril 2013-09:14:50

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00811728 , version 1 (11-04-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00811728 , version 1

Citer

B. Grandidier. [Invité] Caractérisation électrique de défauts atomiques uniques dans un semi-conducteur. Journées Nationales en Nanosciences et Nanotechnologies, J3N 2008, 2008, Grenoble, France. ⟨hal-00811728⟩

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