Imaging techniques for direct defect analysis in SC diamonds : what scanning electron microscopy and cathodoluminescence can ultimately reveal - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Imaging techniques for direct defect analysis in SC diamonds : what scanning electron microscopy and cathodoluminescence can ultimately reveal

P.N. Volpe
  • Fonction : Auteur
S. Saada
  • Fonction : Auteur
Nicolas Tranchant
  • Fonction : Auteur
Jean-Charles Arnault
CV
A. Soltani
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
F. Donatini
  • Fonction : Auteur
P. Bergonzo

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https://hal.science/hal-00807605

Soumis le : jeudi 4 avril 2013-09:08:54

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00807605 , version 1 (04-04-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00807605 , version 1

Citer

P.N. Volpe, S. Saada, Nicolas Tranchant, Jean-Charles Arnault, A. Soltani, et al.. Imaging techniques for direct defect analysis in SC diamonds : what scanning electron microscopy and cathodoluminescence can ultimately reveal. 16th International Hasselt Diamond Workshop, SBDD XVI, 2011, Hasselt, Belgium. ⟨hal-00807605⟩

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