Characterization by laser-ultrasonics of thin film/substrate structure : application to the detection of microcracks

Sabrina Fourez; Frédéric Jenot; Mohammadi Ouaftouh; Marc Duquennoy; Mohamed Ourak

Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Characterization by laser-ultrasonics of thin film/substrate structure : application to the detection of microcracks

, (1) , , ,

1

Sabrina Fourez

Fonction : Auteur
PersonId : 1307661
IdRef : 171525531

Frédéric Jenot

Fonction : Auteur
PersonId : 745609
IdHAL : frederic-jenot
IdRef : 077096797

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520

Mohammadi Ouaftouh

Fonction : Auteur
PersonId : 749862
IdHAL : mohammadi-ouaftouh
ORCID : 0000-0003-0048-3455
IdRef : 120084171

CV

Marc Duquennoy

Fonction : Auteur
PersonId : 750996
IdHAL : marc-duquennoy
ORCID : 0000-0003-1520-5992
IdRef : 162024606

Mohamed Ourak

Fonction : Auteur
PersonId : 750950
IdHAL : mohamed-ourak

Fichier principal

hal-00803085.pdf (1.11 Mo)

Collection IEMN : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00803085

Soumis le : jeudi 21 mars 2013-09:47:07

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Archivage à long terme le : samedi 22 juin 2013-04:00:21

Dates et versions

hal-00803085 , version 1 (21-03-2013)

Identifiants

HAL Id : hal-00803085 , version 1

Citer

Sabrina Fourez, Frédéric Jenot, Mohammadi Ouaftouh, Marc Duquennoy, Mohamed Ourak. Characterization by laser-ultrasonics of thin film/substrate structure : application to the detection of microcracks. Acoustics 2012, Apr 2012, Nantes, France. paper 000543, 151-155. ⟨hal-00803085⟩

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