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Communication Dans Un Congrès Année : 2012

TEM analysis of ZnO nanostructures and epitaxial layers grown by MOCVD

J.P. Biethan
  • Fonction : Auteur
L. Considine
  • Fonction : Auteur
D. Pavlidis
  • Fonction : Auteur
A. Addad
  • Fonction : Auteur
David Troadec
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
El Hadj Dogheche

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https://hal.science/hal-00802566

Soumis le : mercredi 20 mars 2013-10:11:18

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00802566 , version 1 (20-03-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00802566 , version 1

Citer

J.P. Biethan, L. Considine, D. Pavlidis, A. Addad, David Troadec, et al.. TEM analysis of ZnO nanostructures and epitaxial layers grown by MOCVD. 11th Expert Meeting on Evaluation & Control of Coumpound Semiconductor Materials and Technologies, EXMATEC 2012, 2012, Porquerolles, France. pp.1-2. ⟨hal-00802566⟩

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