[Invited] High frequency characterization of nanotechnologies : toward new instrumentations and techniques - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

[Invited] High frequency characterization of nanotechnologies : toward new instrumentations and techniques

Gilles Dambrine
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Kamel Haddadi
CV
Christophe Gaquière
T. Lasri
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 751883
  • IdHAL : tuami-lasri
Y. Tagro
  • Fonction : Auteur
L. Poulain
  • Fonction : Auteur
A. Pottrain
  • Fonction : Auteur

Collection IEMN  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00801042

Soumis le : vendredi 15 mars 2013-08:20:39

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00801042 , version 1 (15-03-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00801042 , version 1

Citer

Gilles Dambrine, Kamel Haddadi, Christophe Gaquière, T. Lasri, Y. Tagro, et al.. [Invited] High frequency characterization of nanotechnologies : toward new instrumentations and techniques. 36th Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits, WOCSDICE 2012, 2012, Porquerolles, France. pp.1-4. ⟨hal-00801042⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS UNIV-VALENCIENNES IEMN UNIV-LILLE
26 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More