Charge transfers from doped silicon nanocrystals probed by non-contact atomic force microscopy

Lukasz Borowik (1) , D. Deresmes (2) , Thuat Nguyen-Tran (3) , Pere Roca I Cabarrocas (3) , Thierry Melin (2)

1 CEA-LETI - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
2 IEMN - Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
3 LPICM - Laboratoire de physique des interfaces et des couches minces [Palaiseau]

Domaines: Sciences de l'ingénieur [physics]

Lukasz Borowik, D. Deresmes, Thuat Nguyen-Tran, Pere Roca I Cabarrocas, Thierry Melin. Charge transfers from doped silicon nanocrystals probed by non-contact atomic force microscopy. International Conference on Nanoscience and Technology, ICN+T 2012, Jul 2012, Paris, France. ⟨hal-00797758⟩