Characterization of AlGaN/GaN high electron mobility transistor grown on silicon carbide devices with a gate length Lg = 0.15 µm - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Sensor letters Année : 2011

Characterization of AlGaN/GaN high electron mobility transistor grown on silicon carbide devices with a gate length Lg = 0.15 µm

M. Gassoumi
  • Fonction : Auteur
M.M. Ben Salem
  • Fonction : Auteur
S. Saadaoui
  • Fonction : Auteur
W. Chikhaoui
  • Fonction : Auteur
H. Maaref
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00795894 , version 1 (01-03-2013)

Identifiants

Citer

M. Gassoumi, M.M. Ben Salem, S. Saadaoui, W. Chikhaoui, Christophe Gaquière, et al.. Characterization of AlGaN/GaN high electron mobility transistor grown on silicon carbide devices with a gate length Lg = 0.15 µm. Sensor letters, 2011, 9, pp.2178-2181. ⟨10.1166/sl.2011.1788⟩. ⟨hal-00795894⟩
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