Methodological approach for predictive reliability: practical case studies - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2012

Methodological approach for predictive reliability: practical case studies

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Hélène Fremont  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00788556

Soumis le : jeudi 14 février 2013-15:52:29

Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25

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Dates et versions

hal-00788556 , version 1 (14-02-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00788556 , version 1

Citer

Hélène Fremont, Geneviève Duchamp, Alexandrine Guedon-Gracia, Frédéric Verdier. Methodological approach for predictive reliability: practical case studies. Microelectronics Reliability, 2012, 52 (12), pp.3035-3042. ⟨hal-00788556⟩

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