Article Dans Une Revue
Thin Solid Films
Année : 2012
Collection IEMN : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00787381
Soumis le : mardi 12 février 2013-09:37:00
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Citer
N. Reckinger, C.A. Dutu, Xing Tang, Emmanuel Dubois, Dmitri Yarekha, et al.. Comparative study of erbium disilicide thin films grown in situ under ultrahigh vacuum or ex situ with a capping layer. Thin Solid Films, 2012, 520, pp.4501-4505. ⟨10.1016/j.tsf.2012.02.076⟩. ⟨hal-00787381⟩
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