Synthèse par faisceaux d'ion et caractérisation de nanocristaux de silicium dopés dans SiO SiO<sub>2</sub> - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2012

Synthèse par faisceaux d'ion et caractérisation de nanocristaux de silicium dopés dans SiO SiO2

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00743238 , version 1 (18-10-2012)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00743238 , version 1

Citer

R. Khelifi, D. Mathiot, D. Muller, S. Duguay. Synthèse par faisceaux d'ion et caractérisation de nanocristaux de silicium dopés dans SiO SiO2. 13èmes Journées de la Matière Condensée (JMC13), Aug 2012, Montpellier, France. ⟨hal-00743238⟩

Collections

CNRS
28 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More